利用電子束穿透超薄樣品成像，分辨率可達0.1nm，是研究材料原子結(jié)構(gòu)和納米材料的利器。
通過掃描電子束探測樣品表面信號，實現(xiàn)納米級表面形貌和成分分析，廣泛應用于材料科學。
使用聚焦離子束進行納米加工、TEM樣品制備和三維重構(gòu)，是半導體制造的關鍵工具。
基于量子隧穿效應，實現(xiàn)原子級表面形貌成像和單原子操控，開創(chuàng)了納米技術新時代。
通過原子間作用力探測表面形貌，適用于導電/絕緣樣品，可在大氣或液相環(huán)境中工作。
結(jié)合TEM和SEM優(yōu)勢，HAADF-STEM可實現(xiàn)原子序數(shù)襯度成像，是材料表征的強大工具。
專注于電子顯微鏡技術在材料科學中的應用研究。
研究方向包括：高分辨電子顯微學、STEM成像技術、圖像處理算法開發(fā)。
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